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詳細(xì)資料

蔡司光學(xué)復(fù)合三坐標(biāo)測量機(jī)O-INSPECT系列

特點(diǎn)：

蔡司工業(yè)測量是的三坐標(biāo)測量生產(chǎn)商，是三坐標(biāo)測量技術(shù)的發(fā)明者和奠基者，致力于為工業(yè)制造領(lǐng)域及測量實(shí)驗(yàn)室的多維測量需要提供專業(yè)的測量解決方案。蔡司獨(dú)立研發(fā)生產(chǎn)所有主要部件，確保了產(chǎn)品高品質(zhì)和高性能的承傳。

O-INSPECT 543作為一款創(chuàng)新意義的工業(yè)測量產(chǎn)品，致力于但又不局限于小、薄、軟零件之幾何量尺寸測量。這是一款現(xiàn)代化的復(fù)合式掃描測量系統(tǒng)，測量范圍為500*400*300mm，占地面積小抗環(huán)境變化能力強(qiáng)，適用于各類型測量室或車間。其設(shè)計(jì)新穎*，于光學(xué)測量特征之外融入*的高分辨率低測力連續(xù)掃描及寬溫測量等因素，以更好地滿足于現(xiàn)代測量的需要。

O-INSPECT 543可滿足制造業(yè)對(duì)于尺寸與掃描精度、尺寸測量及形位公差評(píng)定的廣泛要求。采用*的復(fù)合式掃描平臺(tái)，支持從二維視像到復(fù)雜三維特征或三維工件量測，整體量測重復(fù)性。除了滿足實(shí)驗(yàn)室的精密量測應(yīng)用， O-INSPECT 543亦可用于車間的批量化在線檢測。

ZEISS O-INSPECT
蔡司光學(xué)復(fù)合三坐標(biāo)測量機(jī)O-INSPECT系列每個(gè)領(lǐng)域中的專家
來自蔡司的O-INSPECT復(fù)合式測量機(jī)使您能理想地測量到每一個(gè)特征——通過光學(xué)或接觸式。一個(gè)重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的溫度范圍內(nèi)提供符合ISO標(biāo)準(zhǔn)的可靠三維精度。一個(gè)附加的亮點(diǎn)：CALYPSO軟件不僅簡便地交付測量結(jié)果，而且簡化了發(fā)覺和辨識(shí)錯(cuò)誤原因的過程。

O-INSPECT 322                                                           O-INSPECT 543                                       O-INSPECT 863

測量范圍[dm] 3/2/2                                          測量范圍[dm] 5/4/3                          測量范圍[dm] 8/6/3

大視野，高清圖像——蔡司Discovery遠(yuǎn)心變焦鏡頭

蔡司Discovery.V12來自蔡司顯微鏡事業(yè)部。與常規(guī)鏡頭比較，提供四倍更大視場，即便于鏡頭周邊區(qū)域亦可確保圖像質(zhì)量。優(yōu)點(diǎn)：減少測量時(shí)間并具有穩(wěn)定的精度。

更多測量點(diǎn)，更多信息——蔡司VAST XXT連續(xù)掃描測頭

O-INSPECT配備靈活、快速及高精度的VAST XXT接觸式連續(xù)掃描測頭。 通過這種掃描測頭即可捕捉相當(dāng)大量的測量點(diǎn)，取得有關(guān)形狀和位置的信息，是此類測量機(jī)中的*。別的多探頭測量機(jī)僅允許單點(diǎn)測量，而且探針測力相當(dāng)大；蔡司O-INSPECT卻能以毫牛級(jí)別探針測力進(jìn)行掃描測量，所以針對(duì)薄壁的工件也能實(shí)現(xiàn)真正的3D測量。

既快速又精準(zhǔn)。讓您一目了然——蔡司CALYPSO軟件

O-INSPECT與CALYPSO測量軟件提供全新的可視化功能，使O-INSPECT全面開啟了測量機(jī)可視化的新紀(jì)元。通過它們您可以同時(shí)查看實(shí)際狀態(tài)、理論狀態(tài)及偏差，更快捷詮釋測量結(jié)果。

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品名稱	O-INSPECT 543	O-INSPECT 442	O-INSPECT 322	O-INSPECT 863*
產(chǎn)品外觀
配置	Discovery遠(yuǎn)心變焦鏡頭 自適應(yīng)照明系統(tǒng) VAST XXT掃描探頭 測針架 標(biāo)準(zhǔn)球
選項(xiàng)	白光距離傳感器 轉(zhuǎn)臺(tái) 含玻璃托盤和網(wǎng)格托盤的上下料系統(tǒng) 校準(zhǔn)托盤
軟件	CALYPSO
長度測量 誤差E0		光學(xué)(1D)[μm] 1.7+L/250 接觸(1D)[μm] 1.7+L/250	光學(xué)(1D)[μm] 1.6+L/200 接觸(1D)[μm] 1.6+L/200
測量范圍 [mm]	X500, Y400, Z300	X400, Y400, Z200	X300, Y200, Z200	X800, Y600, Z300